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NAND FLASH中ECC的原理与错误

发布时间:2020-12-15 17:48:12 所属栏目:百科 来源:网络整理
导读:向NAND?Flash写数据时,每256或512字节会生成一个校验码写在每个page的OOB区,当从NAND?Flash读数据时,每读取256或512字节数据,也会生成一个ECC校验码,拿这个校验码与存放在OOB区的校验吗对比看看是否一致,就可以知道读取的数据是否正确. 一般来说,kern

向NAND?Flash写数据时,每256或512字节会生成一个校验码写在每个page的OOB区,当从NAND?Flash读数据时,每读取256或512字节数据,也会生成一个ECC校验码,拿这个校验码与存放在OOB区的校验吗对比看看是否一致,就可以知道读取的数据是否正确.

一般来说,kernel与cramfs是通过U-BOOT烧写到NAND?Flash中,这个过程是向NAND?Flash写数据,会产生ECC码,使用的是U-BOOT的ECC机制产生的(不管是硬件产生还是软件产生),然后这些ECC码会存放在NAND?Flash的OOB区域。

当你启动Kernel时,会从NAND?Flash中读数据,这是时候也会产生ECC码。使用的还是U-BOOT的ECC机制产生的,因为这个读NAND操作是还是处在U-Boot运行状态下。然后这个ECC码与写Kernel时产生的ECC码(保存在OOB区域)做比较,看是否有错误。由于写Kernel与读Kernel都用的是U-BOOT的ECC产生机制,所以一般不会出错。

但你读Cramfs时,这个时候已经是内核状态啦。所以读Cramfs时用的Kernel的ECC产生机制,前面写Cramfs用的U-Boot机制,如果两种机制不一致(包括一个是硬件产生,一个是软件产生,或是软件产生算法不一样,或是OOB区域规划不一样),就会产生错误。

(编辑:李大同)

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